Article
  • Synthesis of Almost Fully Quarternized Poly(4-vinylpyridine)s by Polymer Reaction and Aggregation Property with Sodium Dodecyl Sulfate
  • Sim HS, Choi EJ, Kim YC, Park IH
  • 고분자 반응에 의한 거의 완전 4차화된 폴리(4-비닐피리딘)의 합성 및 도데실 황산 소듐과의 응집 특성
  • 심후식, 최이준, 김용철, 박일현
Abstract
Quarternized poly(4-vinyl pyridine)s have been prepared by the reaction of poly(4-vinyl pyridine)s (Mw=50 kg/mol and 200 kg/mol) and alkylating agents varying the carbon numbers of the alkyl groups (m): dimethyl sulfate (m=1) as well as bromoalkane (m=5, 8, 12, 16, and 22) was used as an alkylating agent. The degree of alkylation was determined by using an elemental analysis and NMR spectroscopy. As a result, polyelectrolytes were obtained by the almost full alkylation of poly(4-vinyl pyridine)s. The critical aggregation concentration (CAC) was determined by measuring the change of turbidity occurred by addition of sodium dodecyl sulfate (SDS) into aqueous solution of quarternized poly(4-vinyl pyridine)s, and the dependence of molecular weight of polymer, the length of N-alkyl group and concentration of NaCl upon CAC was investigated. As a result, as the molecular weight or the length of alkyl group was increased, less amount of SDS could induce the aggregation.

분자량이 다른 두 가지 폴리(4-비닐피리딘)(Mw=50 kg/mol 및 200 kg/mol)을 알킬기의 탄소수(m)를 변화시키면서 N-알킬화시켜 이온성 고분자를 합성하였다. 알킬화제로서 디메틸 설페이트(m=1) 및 브롬화 알칸(m=5, 8, 12, 16 및 22)을 사용하였다. 합성한 이온성 고분자의 조성은 NMR 분광분석법 및 원소분석법을 사용하여 결정하였다. 그 결과로써 거의 완전한 4차 알킬화 반응에 의해 전해질 고분자가 얻어졌음을 알 수 있었다. 합성한 전해질고분자의 수용액에 도데실 황산 소듐(SDS)을 첨가 시 발생되는 탁도 변화를 조사하여 임계응집농도(CAC)를 결정하였으며, 이러한 CAC가 고분자의 분자량, N-알킬기의 길이 및 NaCl의 농도 변화에 어떻게 의존하는가를 조사하였다. 결과로써 폴리(4-비닐피리딘)의 분자량이 클수록 또한 알킬 곁사슬의 길이가 길수록 더 적은 양의 SDS 첨가로도 응집체가 형성되었음을 알 수 있었다.

Keywords: fully quarternized poly(4-vinyl pridine); critical aggregation concentration; polyelectrolyte; turbidity; sodium dodecyl sulfate

  • Polymer(Korea) 폴리머
  • Frequency : Bimonthly(odd)
    ISSN 0379-153X(Print)
    ISSN 2234-8077(Online)
    Abbr. Polym. Korea
  • 2022 Impact Factor : 0.4
  • Indexed in SCIE

This Article

  • 2006; 30(6): 556-562

    Published online Nov 25, 2006

  • 10.7317/pk.
  • Received on Sep 24, 2006
  • Revised on Nov 30, -0001
  • Accepted on Nov 4, 2006

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